Ebben a cikkben a „Mi az „Atomerő-mikroszkóp”” témáról szeretnék beszélni. Nézzük meg, mi ez, és hogyan válaszoljunk néhány gyakran ismételt kérdésre.
És a gyors válasz…
Felületi atomi szerkezet feltérképezésére szolgáló eszköz egy élesen hegyes vezeték vagy más tárgy hegyére ható erő mérésével, amelyet a felületen mozgatnak.
Az Atomerő-mikroszkóp (AFM) egyfajta pásztázó szonda mikroszkóp, amelynek elsődleges feladatai közé tartozik az olyan tulajdonságok mérése, mint a mágnesesség, magasság, súrlódás.
A felbontást nanométerben mérik, ami sokkal pontosabb és hatékonyabb, mint az optikai diffrakciós határ.
Az atomerő-mikroszkópia egyfajta pásztázó szonda, amelynek felbontása nanométer töredékei nagyságrendű, több mint 1000-szer jobb, mint az optikai diffrakciós határ.
Az információt a felület mechanikus szondával történő "tapintásával" vagy "érintésével" gyűjtik össze.
A minta nyomon követésekor képes folyamatosan rögzíteni a domborzatát egy szonda vagy éles piramis- vagy kúpos hegy segítségével.
Az Atomic Force Mikroszkópot széles körben használják nagy felbontású felületi képalkotáshoz; valamint egy anyag mechanikai tulajdonságaira vonatkozó információk beszerzése.
Kiválasztottam néhány kérdést és választ, hogy segítsen megérteni:
Atomerő mikroszkóp
Mi az az atomtávcső mikroszkóp...
Az Atomerő-mikroszkóp (AFM) egyfajta pásztázó szondás mikroszkóp, amelynek elsődleges feladatai közé tartozik az olyan tulajdonságok mérése, mint a mágnesesség, magasság, súrlódás. A felbontást nanométerben mérik, ami sokkal pontosabb és hatékonyabb, mint az optikai diffrakciós határ.Mi az AFM (anti NanoAndMore atomerő mikroszkópia)...
- A NanoAndMore Atomic Force Microscopy (AFM) egy nagy felbontású, nem optikai képalkotási technika, amelyet először Binnig, Quate és Gerber mutatott be 1985-ben {1}. Azóta a felületelemzés hatékony mérőeszközévé fejlődött.Ez a cikk itt ér véget. De ha bármilyen kérdése van, kérjük, tegye fel őket az alábbi megjegyzésekben.
Megjegyzés: Ez egy új bejegyzés piszkozata.
Megjegyzések